Trang chủ » Sản phẩm » Phổ nhiễu xạ tia X » Phổ nhiễu xạ tia X - MiniFlex
Thiết bị phổ nhiễu xạ tia X miniflex thế hệ thứ 6 là thiết bị phân tích đa năng có thể xác định: Nhận diện pha, định lượng và phần trăm độ kết tinh, kích thước tinh thể , thông số mạng, Rietveld, cấu trúc phân tử. Thiết bị được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu đặc biệt là trong khoa học vật liệu và hóa học cũng như nghiên cứu và quản lý chất lượng trong công nghiệp. Đây là hệ thông phổ nhiễu xạ tia X để bàn mới nhất bổ sung vào bộ sưu tập Miniflex của Rigaku đã có cách đây hàng thập kỷ.
Tính năng

Thiết bị phổ nhiễu xạ tia X miniflex thế hệ thứ 6 là thiết bị phân tích đa năng có thể xác định: Nhận diện pha, định lượng và phần trăm độ kết tinh, kích thước tinh thể , thông số mạng, Rietveld, cấu trúc phân tử. Thiết bị được sử dụng rộng rãi trong nghiên cứu đặc biệt là trong khoa học vật liệu và hóa học cũng như nghiên cứu và quản lý chất lượng trong công nghiệp. Đây là hệ thông phổ nhiễu xạ tia X để bàn mới nhất bổ sung vào bộ sưu tập Miniflex của Rigaku đã có cách đây hàng thập kỷ.

Advanced HPAD detector: 0D, 1D, and 2D modes

Hệ thông XRD miniflex có tốc độ và độ nhạy của những kỹ thuật tiên tiến nhất, bao gồm hệ thống detector HyPix-400 MF 2D hybrid pixel array (HPAD) cùng với hệ thống nguồn phát tia X 600W và bộ chuyển đổi mẫu mới nhất tự động 8 vị trí. Hệ thống detector đếm photon có tốc độ đếm cao, giảm tiếng ồn trong quá trình lấy dữ liệu và có thể được vận hành trong chế độ 0D và 1D theo phân tích XRD thông thường và chế độ 2D cho mẫu có kích thước hạt thô hoặc theo một hướng. Sự đa dạng các ống phát tia X anode với phụ kiện bộ xoay mẫu và điều chỉnh vị trí, cùng với một loạt các loại gá đỡ nhiệt độ được cung cấp để đảm bảo rằng hệ thống phổ nhiễu xạ tia X Miniflex đủ linh hoạt để thực hiện phân tích định tính, định lượng cho các mẫu cho dù thực hiện nghiên cứu hay quản lý chất lượng thường xuyên. Hệ thống phổ nhiễu xạ tia X thế hệ thứ 6 thể hiện tiêu chí “Leading with Innovation  - Tiên phong với sự sáng tạo” của tập đoàn Rigaku bằng cách cung cấp thiết bị XRD để bàn tiên tiến nhất triên thế giới.

Phần mềm Powerful PDXL dễ dàng sử dụng

Mọi hệ thống MiniFlex chuẩn đều sử dụng phiên bản mới nhất của PDXL với gói đầy đủ chức năng phân tích nhiễu xạ bột. Phiên bản phần mềm PDXL mới nhất cung cấp nhiều chức năng quan trọng mới bao gồm phương pháp thông số cơ bản FP với nhiều phương pháp tính peak chính xác, nhận diện pha sử dụng Cơ Sở Dữ Liệu Mở Về Tinh Thể Học (COD) và phân tích cấu trúc tinh thể.

Lịch Sử Phát Triển Hệ Thống Phổ Nhiễu Xạ Tia X MiniFlex

Hệ thống phổ nhiễu xạ tia X Miniflex (XRD) có ý nghĩa lịch sử là dòng thiết bị để bàn  đầu tiên. Được giới thiệu năm 1973, Hệ thống XRD Miniflex™ nguyên bản với kích thước bằng một phần mười và không đắt so với dòng XRD ở thời điểm này được coi là thế hệ đầu tiên. Hệ thống kế tiếp được giới thiệu năm 1976 (Thế hệ thứ 2) sử dụng một giác kế nằm ngang cùng với đầu ra dữ liệu bởi một thiết bị ghi biểu đồ bên trong. Thế hệ thiết bị thứ 3 giới thiệu năm 1995, được gọi là MiniFlex+. Nó cung cấp giải pháp phát triển vượt bậc với công suất ống phát tới 450W (Nguồn điện 30kV và dòng 15mA) và điều khiển bỏi Window PC. Cả hệ thống Miniflex+ và sản phẩm kế tiếp sử dụng giác kế đứng, cho phép sử dụng bộ chuyển đổi mẫu tự động. Thế hệ thứ 4: Thiết bị Miniflex II được giới thiệu năm 2006 và cung cấp giải pháp mới tia X đơn sắc và hệ thống đâu dò D/teX Ultra 1D kiểu dải bán dẫn. Thế hệ thứ 5 là hệ thống Miniflex600, được giới thiệu năm 2012, xây dựng kế thừa công suất 600W với năng lượng có sẵn và phần mềm nhiễu xạ bột PDXL mới.

Thông số kỹ thuật

 

MiniFlex 600

MiniFlex 300

Phần mềm

Kiểm soát thiết bị

Kiểm soát & Đo lường

Phân tích dữ liệu

PDXL

Nguồn phát tia X

Công suất tối đa

600W

300W

Điện áp ống

40 kV

30 kV

Cường độ

15 mA

10 mA

Màn trập

Màn trập Rotrary liên kết với khóa liên động

Ống tia X

Cu, Co, Fe, or Cr

Hệ quang học

Divergence slit

Cố định hoặc thay đổi

Scattering slit

Cố định

Receiving slit

Cố định

Filter

Kb foil filter

Bộ đơn sắc (tùy chọn)

Graphite

Soller slit

5.0° or 2.5°

Giác kế

Loại

Thẳng đứng

Bán kín

150 mm

Khoảng quét

-3 to 145° (2θ)

Tốc độ quét

0.01 to 100°/min (2θ

Chiều rộng bước tối thiểu

0.005° (2θ

Độ đúng

±0.02°

Detector

Detector nhấp nháy

NaI scintillator

D/teX Ultra (Tùy chọn)

High speed silicon strip detector

Kích thước

Phần chính

560W-700H-460D (mm)

560W-700H-530D (mm)

Bộ tản nhiệt (Tùy chọn)

460W-570H-510D (mm)

Không yêu cầu

Khối lượng

Phần chính

Khoảng. 80 kg

Khoảng. 90 kg

Bộ tản nhiệt (Tùy chọn)

Khoảng. 50 kg

Không yêu cầu

Nguồn điện yêu cầu

Phần chính

100 to 240 VAC 1φ ±10%

100 to 240 VAC  ±10%

PC

50/60 Hz ±1% 1.0 kVA

50/60 Hz ±1% 0.7 kVA

100 to 240 VAC 1φ ±10%

50/60 Hz ±1% 0.7 kVA

Bộ tản nhiệt (Tùy chọn)

100 to 240 VAC  ±10%

Không yêu cầu

50/60Hz ±1% 1.1kVA

 

In ra