Thiết Bị Thử Nghiệm Lõm Siêu Nano: UNHT

Trang chủ » Sản phẩm » Thiết bị phân tích tính chất bề mặt cơ khí » Thiết Bị Thử Nghiệm Lõm Siêu Nano: UNHT
	Thiết bị thử nghiệm lõm/lún nano độ phân giải siêu cau UNHT, được sử dụng để xác định các tính chất của vật liệu ở phạm vi nano.
Tính năng	UNHT hầu như loại bỏ sự trôi do nhiệt và sự tuân thủ nhờ hệ thống tham chiếu bề mặt chủ động đã đăng ký sáng chế độc đáo của nó. Do đó hoàn toàn phù hợp để đo thời gian dài trên tất cả các loại vật liệu, bao gồm polymer, mô mềm và lớp màng rất mỏng
Thông số kỹ thuật	Lực: Độ phân giải: 3 nN Lực tối đa: 100 mN Độ sâu: Độ phân giải: 0.003 nm Độ sâu tối đa: 100 μm Độ cứng khung tải: >> 108 N/m Các tiêu chuẩn quốc tế: ISO 14577, ASTM E2546, vv.
In ra