Kính hiển vi lực nguyên tử - AFM: Tosca™ 400
Kính hiển vi lực nguyên tử Tosca™ 400 cung cấp thông tin 3 chiều thực của địa hình bề mặt. Đây là một phương pháp tiêu chuẩn cho ngành khoa học vật liệu ở cấp nano, thường được sử dụng ở các trường đại học cũng như các trung tâm nghiên cứu. ToscaTM 400 kết hợp một cách độc đáo công nghệ cao cấp với quá trình vận hành đơn giản, giúp thiết bị phù hợp với cả người sử dụng công nghiệp cũng như các nhà khoa học. Tự động hóa là một yếu tố tích hợp trên mỗi mức hoạt động, tăng hiệu quả và đơn giản hóa việc tiến hành các phép đo AFM.
  1. Tính năng
  2. Thông số kỹ thuật

 - Kỹ năng định hướng tuyệt vời: Tự động căn chỉnh laser

- Cái nhìn tổng thể: Khu vực quét rộng lớn theo mọi hướng kết hợp với độ chính 

  xác cao nhất

- Quá trình gá dễ dàng nhất thị trường AFM

- Tương thích với bất kỳ cantilever

- Sự di chuyển trên mẫu tuyệt vời

 

Scanner

Dải quét phương X-Y

100 µm x 100 µm

Dải quét phương Z

15 µm

Kích thước mẫu

Đường kính mẫu lớn nhất

90 mm

Chiều cao mẫu lớn nhất

25 mm

Khối lượng mẫu lớn nhất

≤600 g

Bộ cơ giới

Phương X-Y

Hành trình 100 mm

Phương Z

Hành trình 85 mm

Độ lặp lại vị trí (uni-directional)

<1 µm

Video microscope

Camera

Màu, 5 megapixel, CMOS sensor

Thị trường

1.73 mm x 1.73 mm

Spatial resolution

5 µm

Focus

Motorized focus

Camera tổng thể

Camera

Màu, 5 megapixel, CMOS sensor

Thị trường

40 mm x 40 mm

Spatial resolution

50 µm

Camera mặt bên

Camera mặt bên

Đen trắng, khoảng nhìn 25 mm

Các chế độ tiêu chuẩn

Hình ảnh

Chế độ tiếp xúc (contact), chế độ tapping (bao gồm hình ảnh pha), lateral force microscopy

AFM

Kích thước

490 mm x 410 mm x 505 mm

Khối lượng AFM

51.1 kg

Kích thước bộ kiểm soát

340 mm x 305 mm x 280 mm

Khối lượng bộ kiểm soát

7.8 kg